隨著藍(lán)牙4.0技術(shù)的普及，藍(lán)牙產(chǎn)品的測(cè)試要求也不斷更新。下面微測(cè)檢測(cè)給大家介紹一下藍(lán)牙4.0RF測(cè)試。藍(lán)牙射頻測(cè)試，首先需要產(chǎn)品進(jìn)入測(cè)試模式，測(cè)試模式是指，由藍(lán)牙技術(shù)規(guī)范(SIG發(fā)布)規(guī)定，支持藍(lán)牙的收發(fā)測(cè)試，能用于配合射頻或基帶層的測(cè)試。不同的藍(lán)牙芯片進(jìn)入測(cè)試模式的方法也不同，具體由芯片廠商決定。

 一、藍(lán)牙技術(shù)規(guī)范定義了兩種測(cè)試模式：

Classic Bluetooth(BR/EDR)技術(shù)測(cè)試模式：DUT Test Mode （信令模式）
Bluetooth Low Energy(BLE)技術(shù)測(cè)試模式：Direct Test Mode （非信令模式）
Classic Bluetooth射頻測(cè)試是采用DUT Test Mode，產(chǎn)品進(jìn)入測(cè)試模式后，藍(lán)牙測(cè)試儀通過射頻線路，與被測(cè)物進(jìn)行信令連接模式，與從而控制其工作狀態(tài)，完成各測(cè)試項(xiàng)目。
低功耗藍(lán)牙射頻測(cè)試則是采用Direct Test Mode測(cè)試模式。通過HCI或者2-wire UART接口來連接進(jìn)入DTM模式。
藍(lán)牙產(chǎn)品進(jìn)入測(cè)試模式之后就可以進(jìn)行藍(lán)牙射頻測(cè)試了。

二、下面介紹藍(lán)牙4.0 Output power（NOC）的測(cè)試

測(cè)試意圖：驗(yàn)證EUT在正常操作條件下發(fā)射的最大峰值和平均功率。

測(cè)試方法：
1） 將被測(cè)物（EUT）通過一個(gè)50Ω的連接器或者一個(gè)50Ω的外接天線連接到測(cè)試系統(tǒng)。
2） 進(jìn)入DTM測(cè)試模式，Whitening關(guān)閉。
3） 跳頻關(guān)閉。
4） EUT以最大的功率輸出連接到測(cè)試儀器上。
5） EUT發(fā)射PRBS9數(shù)據(jù)包。

測(cè)試結(jié)果：
所有測(cè)試結(jié)果都必須達(dá)到：
-20 dBm ≤ PAVG ≤ +10 dBm EIRP 
PPK ≤ (PAVG + 3 dB) 
 

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